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    SGW X-4B-顯微熔點儀 上海儀電

    • 供應數量:2441
    • 發布日期:2024/12/10
    • 有效日期:2025/6/10
    • 原 產 地:上海儀電
    • 已獲點擊:2441

    產品分類

    詳細介紹

    性能指標
    熔點測量范圍:室溫至320℃
    zui小讀數:0.1℃
    測量重復性:±1℃(在<200℃時)
    ±2℃(在200~300℃時)
    配雙目體視顯微鏡
    光學放大倍數:40X-100X連續可調

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